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OBLF Veos直讀光譜儀優(yōu)勢在哪里

點擊次數:1749  更新時間:2018-08-13
 OBLF Veos直讀光譜儀的優(yōu)勢:

1、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導體光敏檢測器,其感光能力比常規(guī)檢測器高100倍以上,覆蓋全部檢測波長范圍;

2、光學系統采用恒溫真空光室,光學及電子元器件置于真空保護中,可不受外界環(huán)境變化的影響,重現性及長期穩(wěn)定性;

3、通用多基體分析系統分析通道無限制,用于固體金屬材料成分快速分析;

4、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導體光敏檢測器,其感光能力比常規(guī)檢測器高100倍以上,覆蓋全部檢測波長范圍;

5、開放式激發(fā)臺,適合各種形狀和尺寸樣品分析;

6、真空泵的運行時間小于全部工作時間的5%,工作環(huán)境安靜;

7、可以應用于多基體,不受元素選線的限制;

8、在檢出線、分析精度、和穩(wěn)定性等方面性能優(yōu)異;

9、可以分析氮元素和碳元素(包括超低碳);

10、能夠在灰塵較多的惡劣環(huán)境中使用。

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